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測量頻率1kHz/120Hz的C測試儀3504-50
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測量頻率1kHz/120Hz的C測試儀3504-50的詳細資料
品牌：HIOKI
產地：JAPAN
供應商：深圳市蘑菇官方网站进入IOS電子科技有限公司
HIOKI日置測量頻率1kHz/120Hz的C測試儀3504-50產品介紹
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封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值，進行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
| 測量參數 | Cs，Cp(電容)，D(損耗係數tanδ) |
|---|---|
| 測量範圍 | C：0.9400pF～20.0000mF D：0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | (代表值)C： ±0.09% rdg. ±10 dgt.， D： ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E， B～E為各係數 |
| 測量頻率 | 120Hz， 1kHz |
| 測量信號電平 | 恒壓模式： 100mV (僅限3504-60)， 500mV， 1 V 測量範圍： CV 100mV：～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz)， ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV： ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz)， ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V： ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz)， ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 | 5Ω(CV測量範圍以外的開路端子電壓模式時) |
| 顯示 | 發光二級管 (6位表示，滿量程計算器根據量程而定) |
| 測量時間 | 典型值： 2.0 ms ( 1kHz， FAST) ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分類測量 (3504-40除外)， 觸發同步輸出， 測量條件記憶， 測量值的比較功能， 平均值功能， Low-C篩選功能， 振動功能， 控製用輸出輸入 (EXT. I/O)， RS-232C接口(標配)， GP-IB接口(3504-40除外) |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇)， 50/60Hz， 上限110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm， 3.8kg |
| 附件 | 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1 |
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